非接觸式多點動態(tài)位移檢測系統(tǒng) 型號：JZ-QL9800

產(chǎn)品用途：

主要用于檢測橋梁梁體、橋墩、支座、懸索等結(jié)構(gòu)的動態(tài)及靜態(tài)變形，也可用于隧道、大壩、高塔、文物古建等結(jié)構(gòu)物的監(jiān)測。

工作原理：

非接觸式多點動態(tài)位移檢測系統(tǒng)

    采用圖像模式識別技術及模板匹配跟蹤算法相結(jié)合技術，通過圖像相關算法對被測物體進行高速跟蹤測量。整個測量過程，僅需一臺主機找準被測目標，即可計算出視場范圍內(nèi)所有點的兩維動態(tài)或靜態(tài)位移。

主要技術參數(shù)：

檢測距離：1-500米；

分辨率：測量范圍的十萬分之一；

測量精度：士0.02mm（10米距離),可同時記錄橋梁橫向及豎向位移；

測量范圍：0.01mm～300m（縱向）；

撓度測量：可同時測量多個靜態(tài)點，8個動態(tài)點；

采樣頻率：110Hz（8個目標點）；

距離檢測精度：1mm

測量方式：實時測量和離線測量（工況錄制）；

數(shù)據(jù)采集及分析系統(tǒng):系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集及分析軟件，量測的數(shù)據(jù)能實時顯示，能夠完成自動標定。分析軟件包括撓度zui大、zui小值，濾波功能，基線平移，沖擊系數(shù)，功率譜，區(qū)間頻率。

產(chǎn)品特點：

*：無需在被測點上安裝靶標或標志點即可進行測量，在特殊工況下使用更為方便；

第二：可同時測量多點動態(tài)撓度或者靜態(tài)撓度，效率更快，精度更高；

第三：可對撓度值同時進行兩位測量，即縱向、尤其是橫向的位移測量，解決目前所有儀器存在的技術壁壘；

第四：可以采用先拍攝視頻錄，事后再增加測點等處理分析的方式，彌補現(xiàn)場測量可能存在的盲點或不足；

第五：具備抗擾動算法，可有效消除架設面振動、天氣等外界環(huán)境因素對儀器的影響；

第六：測量范圍廣，可將整跨或整座橋盡收其中，測量范圍zui大可達百米以上。

 使用一臺儀器可測量多個被測點，通過多個被測點的數(shù)據(jù)可以得到結(jié)構(gòu)的整體運動情況。

可以采用先拍攝視頻錄，再進行分析的方式。這樣可進行更詳細的分祈，便于發(fā)現(xiàn)橋梁的問題所在。

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針電阻率測試儀 產(chǎn)品型號：SX1944

數(shù)字式四探針電阻率測試儀型號：SX1944

產(chǎn)品說明   
 　　 四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。廣泛用于半導體廠家、太陽能行業(yè)，還能滿足科研單位的精密研究。　   
產(chǎn)品特點   
 　　四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試儀器。    
　　儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件，采用旋扭式開關控制，及各種工作狀態(tài)LED指示。應用微計算機技術，使得測量讀數(shù)更加直觀、快速。整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。   
　型號SX1944 
測量范圍電阻率：10-4～105Ω-cm 方塊電阻：10-3～106Ω/□ 電阻：10-4～105Ω 
可測半導體材料尺寸直徑：Φ15～100mm 
測量方位軸向、徑向均可 
數(shù)字電壓表⑴量程： 200mV 
⑵誤差：± 0.1% 讀數(shù)± 2 字 
⑶大分辨力：10μV 
顯示 : 4位半數(shù)字顯示。小數(shù)點自動顯示 

數(shù)控恒流源⑴電流輸出：直流電流 0 ～ 100mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。 
⑵量程： 1 μ A ， 10 μ A ， 100μA ， 1mA ， 10mA ， 100mA 
⑶誤差：± 0.5% 讀數(shù)± 2 字 

四探針測試探頭⑴探 針 間 距： 1mm 
⑵探針機械游移率： ± 1.0% 
⑶探 針： 碳化鎢，Φ 0.5mm 
⑷壓 力： 0 ～ 2kg 可調(diào) , 大壓力約 2kg 

電源輸入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗： <20W 
外形尺寸主機 260mm （長）× 210 mm （寬）× 125mm （高） 
備注USB 接口，配軟件